Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機(jī)

產(chǎn)品型號：iKon-L SO
更新時間：2025-10-17
產(chǎn)品介紹：Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。
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Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機(jī)：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動態(tài)范圍和快速探測的CCD、sCMOS和EMCCD相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測解決方案。這些探測器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測相機(jī)特性：

讀數(shù)噪音低至2.9 e-

無窗口直接X射線探測相機(jī)

大面積4.2 MP傳感器峰值QE高達(dá)95%（軟x射線區(qū)域）高分辨率13.5 um像素TE冷卻至-100°C

產(chǎn)品規(guī)格	iKon-L SO
芯片類型	背照CCD
快門	全局快門
數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
分辨率	2048 x 2048
彩色/黑白	黑白
幀率	0.953